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太空AI计算液冷循环中贴片电容的极端环境适应性
文章出处：平尚科技
责任编辑：平尚科技
发表时间：2026-01-05
为在轨卫星、深空探测器或空间站搭载的AI计算单元提供算力，是太空探索与利用的前沿。这类太空AI计算平台往往采用液冷循环来应对真空环境下的散热难题。然而，太空的极端环境组合——高真空、强辐射、剧烈温度交变与微重力——对其中所有电子元件的生存与性能构成了地基设备难以想象的挑战。作为电源滤波、去耦与储能核心的贴片电容，尤其是多层陶瓷电容（MLCC），其在此环境下的适应性，是决定整个计算系统能否在轨长期可靠工作的关键因素之一。平尚科技基于对工业级高可靠技术的研究，深入剖析贴片电容应对这一系列复合极端条件的策略与边界。
太空环境对贴片电容的考验是多维度、物理层面的。- 高真空与放气效应：太空的极高真空环境（<10^-5 Pa）会导致有机材料中吸附或溶解的气体缓慢释放，即“出气”。对于MLCC，其外部的环氧树脂封装和内部的电极、介质材料都可能含有微量挥发性物质。在真空下，这些物质逸出可能导致两个问题：一是污染精密的光学或传感器表面（在航天器中尤为重要）；二是可能轻微改变封装或介质材料的介电性能。更关键的是，真空消除了空气对流散热，热量传导完全依赖固体传导和辐射，这对电容在高负载下的热管理提出了更苛刻的要求。
- 剧烈温度循环：在轨运行期间，设备会反复进出地球阴影区，经历日照与阴影的交替，加之内部功耗变化，可能造成元器件在-55℃至+125℃甚至更宽范围内剧烈、快速的温度循环。这种循环会在电容内部不同材料（陶瓷介质、金属电极、封装树脂）间产生巨大的热应力，因其热膨胀系数不匹配。长期作用下，可能导致陶瓷介质产生微裂纹、电极与介质层间脱层，最终表现为电容容量衰减、损耗增加或绝缘电阻下降。
- 电离辐射总剂量与单粒子效应：太空中的高能粒子辐射会穿透器件。总剂量效应 指长期累积的辐射损伤，可能导致陶瓷介质的晶格缺陷增加、绝缘性能下降，表现为电容漏电流增大。对于采用铁电材料（如高介电常数的X7R、X5R）的MLCC，辐射还可能改变其介电常数，导致容值漂移。单粒子效应 指单个高能粒子引发的瞬时扰动，虽然对电容这类无源器件直接影响较小，但可能影响其周边的敏感电路。
面向此类需求，平尚科技的工业级高可靠设计思路并非简单地将商业级产品升级，而是从材料体系、工艺控制和系统防护上进行系统性适应。- 低放气与耐辐射材料选择：针对真空和辐射，首要任务是选用低放气率（Low Outgassing） 的专用封装材料，其总质量损失（TML）和收集挥发性可凝物（CVCM）需满足航天标准（如ECSS-Q-ST-70-02C要求TML<1.0%， CVCM<0.1%）。在介质材料上，会优先考虑辐射耐受性相对更好的C0G（NP0） 类温度补偿型陶瓷介质。C0G介质基于顺电材料，其介电常数基本不受温度和辐射影响，容量稳定性极高（ΔC/C可达±0.3%以内），尽管其容值密度低于X7R，但对于关键的高可靠性滤波和定时电路是不可替代的选择。
- 强化内部结构与工艺控制：为了抵御热机械应力，制造工艺需确保介质层与电极界面的牢固结合。通过优化烧结工艺和采用共烧技术，增强内部结构的完整性。同时，严格控制陶瓷坯体的微观结构均匀性，减少初始缺陷，以提升抗裂纹扩展能力。在端电极处理上，采用多层金属化系统（如Ag/Pd/Ni/Sn），确保在热循环后仍保持优异的焊接强度和导电性。
- 基于系统应用的防护与降额：在无法完全免疫所有辐射效应时，系统级设计至关重要。这包括：为关键信号路径的电容设置充足的电压降额（如使用额定电压为工作电压2-3倍的产品），以应对辐射可能导致的绝缘强度缓慢下降；在电路设计中，采用容值冗余设计，并避免完全依赖高介电常数材料电容的绝对精度；利用液冷系统本身作为热沉，通过精心的热设计和布局，将电容的工作温度范围尽可能收窄，减少其承受的绝对温差幅度。
国内航天级元器件产业链经过长期发展，已能提供满足相应标准的MLCC产品。平尚科技的工业级高可靠技术路径，通过借鉴航天质量管理的理念和方法，在材料、工艺和筛选上投入，能够为目标应用提供在特定严酷环境下具备优秀适应性的产品。例如，其专门筛选和处理的C0G材质MLCC，在经过模拟的-55℃至+125℃温度循环数百次后，容量变化可控制在±1%以内；在经受一定剂量的伽马射线总剂量辐照后，其绝缘电阻能保持在10^8欧姆以上。这些参数虽然与顶尖的宇航级产品可能存在差距，但已能有效支撑许多对成本与可靠性有综合考量的先进太空AI计算项目的研制需求。太空AI计算的液冷循环，为贴片电容设置了一个集真空、辐射、温差于一体的终极考场。适应这一环境，没有单点突破的“银弹”，而是需要对材料物理、工艺极限和系统工程的深入理解与协同设计。平尚科技通过聚焦低放气材料、高稳定介质和强化结构工艺，为其工业级贴片电容注入了应对极端环境的部分关键能力。这标志着国产基础元器件技术正向更深、更广的可靠性领域拓展，为未来在轨智能系统的自主可控与长期在轨可靠运行，铺垫着微小却不可或缺的基石。
